เซนเซอร์ด้านหน้าคลื่นอัลตราไวโอเลต มีความละเอียดเฟสสูง 2NM RMS และต้านทานการสั่นสะเทือนที่แข็งแกร่งเป็นพิเศษ นอกจากนี้ยังมีความละเอียด 512×512 พิกเซล (262,144 จุดเฟส) ซึ่งสามารถวัดสัญญาณรบกวนที่ระนาบโฟกัสด้านหลังได้ เทคโนโลยีนี้ต้องการให้แหล่งกำเนิดแสงมีความสอดคล้องกันต่ำ และไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนเฟส ด้วยระบบถ่ายภาพอัลตราไวโอเลต อุปกรณ์นี้สามารถวัดหน้าคลื่นแบบเรียลไทม์ได้
ชื่อผลิตภัณฑ์ |
เซ็นเซอร์หน้าคลื่นอัลตราไวโอเลต |
ช่วงความยาวคลื่น |
200 นาโนเมตร ~ 450 นาโนเมตร |
ขนาดเป้าหมาย |
13.3มม.×13.3มม |
ความละเอียดเชิงพื้นที่ |
26ไมโครเมตร |
ความละเอียดในการสุ่มตัวอย่าง |
512×512(262144พิกเซล) |
ความละเอียดเฟส |
<2nmRMS |
ความแม่นยำแน่นอน |
10nmRMS |
ช่วงไดนามิก |
90μm (256 นาที) |
อัตราการสุ่มตัวอย่าง |
32เฟรมต่อวินาที |
ความเร็วในการประมวลผลแบบเรียลไทม์ |
10Hz (ความละเอียดเต็ม) |
ประเภทอินเทอร์เฟซ |
ยูเอสบี3.0 |
มิติ |
70 มม.×46.5 มม.×68.5 มม |
น้ำหนัก |
ประมาณ 240ก |
◆สเปกตรัมรังสียูวี 200nm~450nm แบนด์
◆ความละเอียดสูงพิเศษของจุดเฟส 512 × 512 (262144)
◆การรบกวนตัวเองของแสงช่องเดียว ไม่จำเป็นต้องใช้ไฟอ้างอิง
◆2nm RMS ความละเอียดเฟสสูง
◆เช่นเดียวกับการสร้างภาพ การสร้างเส้นทางแสงที่ง่ายและรวดเร็ว
◆รองรับคานคอลลิเมตและคานที่ไม่คอลลิเมต NA สูง
◆ประสิทธิภาพการป้องกันการสั่นสะเทือนที่แข็งแกร่งมาก ไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือนด้วยแสง
เซ็นเซอร์คลื่นอัลตราไวโอเลต BOJIONG นี้ใช้สำหรับการวัดความคลาดเคลื่อนของระบบออปติคอล การสอบเทียบระบบออปติคัล การวัดรูปร่างพื้นผิวเรียบ (เวเฟอร์) การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลมแบบออปติคอล ฯลฯ
การตรวจจับหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์ |
การตอบสนองการตรวจจับ Wavefront ของโหมด Zernike ออปติกแบบปรับได้ |
ตัวอย่างการวัดความคลาดเคลื่อนของระบบออปติคอล
|
ตัวอย่างการวัดการสอบเทียบระบบออปติคอล
|
ตัวอย่างการวัดความหยาบผิวเวเฟอร์
|
การวัดสัณฐานวิทยาการแกะสลักแบบไมโคร - ตัวอย่างข้อบกพร่อง 1 # -114 เส้น |
BOJIONG Ultraviolet Wavefront Sensor พัฒนาโดยทีมอาจารย์จากมหาวิทยาลัยเจ้อเจียงและมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีนันยางแห่งสิงคโปร์ พร้อมเทคโนโลยีที่ได้รับสิทธิบัตรในประเทศ โดยผสมผสานการเลี้ยวเบนและการรบกวนเข้าด้วยกันเพื่อให้ได้สัญญาณรบกวนเฉือนตามขวางทั่วไปสี่คลื่น พร้อมความไวในการตรวจจับที่เหนือกว่าและประสิทธิภาพการป้องกันการสั่นสะเทือน และสามารถรับรู้อินเทอร์เฟอโรเมทไดนามิกแบบเรียลไทม์และความเร็วสูงโดยไม่มีการแยกการสั่นสะเทือน การวัดแบบเรียลไทม์แสดงอัตราเฟรมมากกว่า 10 เฟรม ในเวลาเดียวกัน เซ็นเซอร์ FIS4 มีความละเอียดเฟสสูงเป็นพิเศษที่ 512×512 (260,000 จุดเฟส) แถบการวัดครอบคลุม 200nm~15μm ความไวในการวัดสูงถึง 2nm และความสามารถในการทำซ้ำการวัดดีกว่า 1/1000γ ( อาร์เอ็มเอส) สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์คุณภาพลำแสงเลเซอร์ การตรวจจับสนามการไหลของพลาสมา การวัดแบบเรียลไทม์ของการกระจายสนามการไหลความเร็วสูง การประเมินคุณภาพของภาพของระบบออปติคอล การวัดโปรไฟล์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ และการถ่ายภาพเฟสเชิงปริมาณของเซลล์ชีวภาพ
ที่อยู่
เลขที่ 578 ถนน Yingkou เขตหยางผู่ เซี่ยงไฮ้ จีน
โทร /
อีเมล