เซนเซอร์ Wavefront ความละเอียดสูงพิเศษ

เซนเซอร์ Wavefront ความละเอียดสูงพิเศษที่มีความละเอียดสูงพิเศษ 512×512 ช่วยให้ได้รับข้อมูลที่มีความแม่นยำระดับนาโนเมตร ทำให้มั่นใจได้ถึงความครอบคลุมที่ครอบคลุมสำหรับการวิเคราะห์โดยละเอียด ช่วงการตอบสนองสเปกตรัมกว้างตั้งแต่ 400 ถึง 1100 นาโนเมตร ทำให้เหมาะสำหรับแหล่งกำเนิดแสงต่างๆ นอกจากนี้ ยังมีการแสดงผล 3D ความละเอียดเต็มรูปแบบแบบเรียลไทม์ที่อัตรา 10 เฟรมต่อวินาที ให้มุมมองข้อมูลหน้าคลื่นแบบไดนามิกและทันที ทำให้เป็นโซลูชันที่ครอบคลุมสำหรับความต้องการในการตรวจจับและการวัดคลื่นหน้าคลื่น

ข้อมูลจำเพาะของรายการ:

คุณลักษณะของเซนเซอร์ Wavefront ความละเอียดสูงพิเศษ BOJIONG

◆ความละเอียดสูงพิเศษ 512×512 (262144) จุดเฟส

◆การรบกวนตัวเองของแสงช่องเดียว ไม่จำเป็นต้องใช้ไฟอ้างอิง

◆เช่นเดียวกับการสร้างภาพ การสร้างเส้นทางแสงที่ง่ายและรวดเร็ว

◆คลื่นความถี่กว้าง 400nm~1100nm

◆2nm RMS ความละเอียดเฟสสูง

◆ ต้านทานการสั่นสะเทือนสูงเป็นพิเศษ ไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือนด้วยแสง

◆รองรับลำแสงคอลลิเมตและคานผสาน NA ขนาดใหญ่

 การประยุกต์ใช้เซ็นเซอร์หน้าคลื่นความละเอียดสูงพิเศษ BOJIONG

เซ็นเซอร์หน้าคลื่นความละเอียดสูงพิเศษ BOJIONG นี้ใช้ในการตรวจจับด้านหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์, ออพติกแบบปรับได้, การวัดรูปร่างพื้นผิว, การสอบเทียบระบบออปติคัล, การตรวจจับหน้าต่างด้วยแสง, ระนาบแสง, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, การตรวจจับความเรียบของพื้นผิว

รายละเอียดเซ็นเซอร์หน้าคลื่นความละเอียดสูงพิเศษ BOJIONG

BOJIONGเซ็นเซอร์หน้าคลื่นความละเอียดสูงพิเศษ พัฒนาโดยทีมอาจารย์จากมหาวิทยาลัยเจ้อเจียงและมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีนันยางแห่งสิงคโปร์ ด้วยเทคโนโลยีที่จดสิทธิบัตรในประเทศ โดยผสมผสานการเลี้ยวเบนและการรบกวนเพื่อให้เกิดการรบกวนเฉือนตามขวางสี่คลื่นทั่วไป พร้อมความไวในการตรวจจับที่เหนือกว่าและประสิทธิภาพการป้องกันการสั่นสะเทือน และสามารถรับรู้อินเทอร์เฟอโรเมทไดนามิกแบบเรียลไทม์และความเร็วสูงโดยไม่มีการแยกการสั่นสะเทือน การวัดแบบเรียลไทม์แสดงอัตราเฟรมมากกว่า 10 เฟรม ในเวลาเดียวกัน เซ็นเซอร์ FIS4 มีความละเอียดเฟสสูงเป็นพิเศษที่ 512×512 (260,000 จุดเฟส) แถบการวัดครอบคลุม 200nm~15μm ความไวในการวัดสูงถึง 2nm และความสามารถในการทำซ้ำการวัดดีกว่า 1/1000γ ( อาร์เอ็มเอส) สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์คุณภาพลำแสงเลเซอร์ การตรวจจับสนามการไหลของพลาสมา การวัดแบบเรียลไทม์ของการกระจายสนามการไหลความเร็วสูง การประเมินคุณภาพของภาพของระบบออปติคอล การวัดโปรไฟล์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ และการถ่ายภาพเฟสเชิงปริมาณของเซลล์ชีวภาพ