เซ็นเซอร์ Wavefront ความละเอียดสูง ซึ่งแสดงผล 3D ความละเอียดเต็ม 10 เฟรมแบบเรียลไทม์ มีความละเอียดสูงที่จุดเฟส 300×300 (90,000) และการตอบสนองสเปกตรัมกว้างตั้งแต่ 400-1100 นาโนเมตร เหมาะสำหรับการใช้งานต่างๆ เช่น การตรวจจับคลื่นเลเซอร์ด้านหน้า, ออพติกแบบปรับได้, การสอบเทียบระบบออพติคอล, การตรวจสอบหน้าต่างออพติคอล, การวัดรูปร่างของพื้นผิวระนาบออปติคัล, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, ความหยาบของพื้นผิว และการตรวจจับโปรไฟล์ไมโครพื้นผิว ซึ่งให้ผลลัพธ์ในอุดมคติ เครื่องมือสำหรับการตรวจจับและการวัดหน้าคลื่น
ชื่อสินค้า |
เซ็นเซอร์หน้าคลื่นความละเอียดสูง |
ช่วงความยาวคลื่น |
400 นาโนเมตร ~ 1100 นาโนเมตร |
ขนาดเป้าหมาย |
7.07มม.×7.07มม |
ความละเอียดเชิงพื้นที่ |
23.6μm |
พิกเซลของภาพ |
2048×2048 |
ความละเอียดเอาต์พุตเฟส |
300 × 300 (90000 พิกเซล) |
ความละเอียดเฟส |
<2nmRMS |
ความแม่นยำแน่นอน |
10nmRMS |
ช่วงไดนามิก |
110μm (150lm) |
อัตราการสุ่มตัวอย่าง |
24เฟรมต่อวินาที |
ความเร็วในการประมวลผลแบบเรียลไทม์ |
10Hz (ที่ความละเอียดเต็ม) |
ประเภทอินเทอร์เฟซ |
สับ |
มิติ |
56.5 มม.×43 มม.×41.5 มม |
น้ำหนัก |
ประมาณ 120ก |
◆รองรับลำแสงคอลลิเมตและคานผสาน NA ขนาดใหญ่
◆ความละเอียดสูง 300 × 300 (90000) จุดเฟส
◆การรบกวนตัวเองของแสงช่องเดียว ไม่จำเป็นต้องใช้กระจกอ้างอิง
◆คลื่นความถี่กว้าง 400nm~1100nm
◆2nm RMS ความละเอียดเฟสสูง
◆ ต้านทานการสั่นสะเทือนสูงเป็นพิเศษ ไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือนด้วยแสง
◆สร้างเส้นทางแสงรบกวนที่ง่ายและรวดเร็ว
เซนเซอร์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG นี้ใช้ในการตรวจจับด้านหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์, ออพติกแบบปรับได้, การวัดรูปร่างพื้นผิว, การสอบเทียบระบบออปติคอล, การตรวจจับหน้าต่างออปติคัล, ระนาบออปติคอล, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, การตรวจจับความหยาบของพื้นผิว
การตรวจจับหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์ |
การวัดรูปร่างพื้นผิวระนาบแสง |
การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลมแบบออปติคอล |
การวัดความคลาดเคลื่อนของระบบออปติก |
การตรวจจับชิ้นหน้าต่างแบบออปติคอล |
การวัดการกระจายตัวของโครงตาข่ายภายในวัสดุ |
Adaptive optics - การตอบสนองการตรวจจับหน้าคลื่นในโหมด Zernike |
|
BOJIONGH igh ความละเอียด Wavefront Sensor พัฒนาโดยทีมอาจารย์จากมหาวิทยาลัยเจ้อเจียงและมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีนันยางแห่งสิงคโปร์ ด้วยเทคโนโลยีที่ได้รับสิทธิบัตรในประเทศ โดยผสมผสานการเลี้ยวเบนและการรบกวนเพื่อให้เกิดการรบกวนแบบเฉือนตามขวางสี่คลื่นทั่วไป พร้อมความไวในการตรวจจับที่เหนือกว่าและป้องกันการสั่นสะเทือน ประสิทธิภาพและสามารถรับรู้อินเทอร์เฟอโรเมทไดนามิกแบบเรียลไทม์และความเร็วสูงโดยไม่มีการแยกการสั่นสะเทือน การวัดแบบเรียลไทม์แสดงอัตราเฟรมมากกว่า 10 เฟรม ในเวลาเดียวกัน เซ็นเซอร์ FIS4 มีความละเอียดเฟสสูงเป็นพิเศษที่ 512×512 (260,000 จุดเฟส) แถบการวัดครอบคลุม 200nm~15μm ความไวในการวัดสูงถึง 2nm และความสามารถในการทำซ้ำการวัดดีกว่า 1/1000γ ( อาร์เอ็มเอส) สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์คุณภาพลำแสงเลเซอร์ การตรวจจับสนามการไหลของพลาสมา การวัดแบบเรียลไทม์ของการกระจายสนามการไหลความเร็วสูง การประเมินคุณภาพของภาพของระบบออปติคอล การวัดโปรไฟล์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ และการถ่ายภาพเฟสเชิงปริมาณของเซลล์ชีวภาพ
ที่อยู่
เลขที่ 578 ถนน Yingkou เขตหยางผู่ เซี่ยงไฮ้ จีน
โทร /
อีเมล