ข่าว

จุดเฟสความละเอียดสูงพิเศษ 512×512 (262144) ให้การวัดคลื่นหน้าคลื่นที่มีความแม่นยำสูงในช่วง 900 นาโนเมตรถึง 1200 นาโนเมตร ซึ่งสามารถใช้สำหรับการวัดความคลาดเคลื่อนของระบบออพติคอล การสอบเทียบระบบออพติคัล การวัดการกระจายตาข่ายภายในของวัสดุ เมตาเซอร์เฟส ซูเปอร์เลนส์ การวัดหน้าคลื่น ฯลฯ

พัฒนาขึ้นเป็นพิเศษสำหรับการวิเคราะห์หน้าคลื่นในสถานการณ์อุตสาหกรรม การป้องกัน และการวิจัยทางวิทยาศาสตร์ความเร็วสูง เช่น ช็อตการบินและสนามการไหล โดยมีความละเอียดสูงพิเศษที่จุดเฟส 420×420 (176400) การตอบสนองสเปกตรัมกว้าง 400-1100 นาโนเมตร และการสุ่มตัวอย่างความเร็วสูง 107 เฟรม มอบเครื่องมือตรวจวัดคลื่นหน้าคลื่นในอุดมคติสำหรับการตรวจจับความหยาบผิวเวเฟอร์ สัณฐานวิทยาจุลภาคที่ใช้ซิลิคอนและพื้นผิวแก้ว การวัด, เลนส์แอโรไดนามิก, สนามการไหลความเร็วสูง, การวัดความหนาแน่นของพลาสมาของก๊าซ ฯลฯ

​ออกแบบมาเพื่อช่วยเหลือการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และสถานการณ์ทางอุตสาหกรรมที่มีความแม่นยำสูง ความละเอียดที่สูงขึ้นสามารถให้ข้อมูลที่มีรายละเอียดมากขึ้นในการตรวจจับด้านหน้าคลื่น ความละเอียดสูงพิเศษที่จุดเฟส 512×512 (262144) การตอบสนองสเปกตรัมกว้าง 400-1100 นาโนเมตร เฟรมเต็ม 10 เฟรม จอแสดงผลผลลัพธ์ 3 มิติแบบเรียลไทม์ที่มีความละเอียด ให้เครื่องมือวัดการตรวจจับหน้าคลื่นในอุดมคติสำหรับการตรวจจับหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์ ออปติกแบบปรับได้ การวัดพื้นผิวระนาบ การสอบเทียบระบบออปติคัล ออปติคอล การตรวจจับหน้าต่าง, การวัดพื้นผิวทรงกลมแบบออปติคัล, การตรวจจับความหยาบของพื้นผิว, ไมโครคอนทัวร์ของพื้นผิว ฯลฯ

พัฒนาขึ้นโดยเฉพาะสำหรับการวัดอินเทอร์เฟอโรเมตริกที่สะดวกในอุตสาหกรรม การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และการป้องกันประเทศ ความละเอียดสูงที่จุดเฟส 300×300 (90,000) การตอบสนองสเปกตรัมกว้าง 400-1100 นาโนเมตร จอแสดงผล 3D แบบเรียลไทม์ความละเอียดสูงเต็มรูปแบบ 10 เฟรม มอบเครื่องมือวัดการตรวจจับหน้าคลื่นในอุดมคติสำหรับการตรวจจับด้านหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์ ระบบออปติกแบบปรับได้ ระบบออพติคอล การสอบเทียบ, การตรวจจับหน้าต่างด้วยแสง, รูปร่างพื้นผิวระนาบแสง, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, ความหยาบของพื้นผิว, การตรวจจับรูปร่างไมโครของพื้นผิว ฯลฯ