เซ็นเซอร์คลื่นความละเอียดสูง FLS4 400-1100Nm

เซ็นเซอร์คลื่นความละเอียดสูง FIS4 400-1100Nm

BojiongFIS4 HR-W Wavefront เซ็นเซอร์ 400-1100Nmคุณสมบัติจุดตรวจจับเฟสความละเอียดสูง 300x300 และแกนการคำนวณประสิทธิภาพสูง (พร้อมความแม่นยำในการวัดสูงถึง 2nm RMS) ให้ข้อมูลคลื่นแบบเรียลไทม์ที่ความละเอียดเต็มรูปแบบ 10 เฟรมต่อวินาที การออกแบบ interferometry แบบทั่วไปที่ปฏิวัติวงการช่วยให้มั่นใจได้ว่าการทำงานที่มั่นคงแม้ในสภาพแวดล้อมที่มีการสั่นสะเทือนสูงโดยไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือน การพัฒนาแบบสุ่มและอัลกอริทึมการสร้างใหม่ที่มีประสิทธิภาพในประเทศช่วยให้มั่นใจได้ว่าการต้านทานการรบกวนที่ยอดเยี่ยมประสิทธิภาพการวัดที่แม่นยำและการบังคับใช้อุตสาหกรรมในวงกว้าง

Bojiongเซ็นเซอร์ Wavefront FIS4-HR-W 400-1100Nm การแนะนำ

Bojiongเซ็นเซอร์คลื่นความละเอียดสูง FIS4 400-1100Nmเป็นผลิตภัณฑ์ตรวจสอบแสงที่มีความแม่นยำสูงล่าสุดของ บริษัท มันเป็นไปตามมาตรฐานการรับรอง ISO 9001 และมาตรฐานการรับรองสถาบันการศึกษาแห่งชาติของจีน (NIM) และมาพร้อมกับการรับประกันหนึ่งปี ที่เซ็นเซอร์คลื่น FIS4-HR-Wใช้อินเตอร์เฟอโรเมตรีแบบสามัญและอัลกอริทึมการสร้างคลื่นแบบเรียลไทม์แบบเรียลไทม์ทำให้ไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนเฟสและให้ความต้านทานการสั่นสะเทือนที่ยอดเยี่ยม ออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการด้านการวิจัยทางวิทยาศาสตร์ที่เข้มงวดที่สุดและการตรวจสอบอุตสาหกรรมมันมีการดำเนินงานแบบปลั๊กและเล่นและการบำรุงรักษาที่เรียบง่าย

Bojiongเซ็นเซอร์ Wavefront FIS4-HR-W 400-1100Nm พารามิเตอร์ (ข้อมูลจำเพาะ)

Bojiongเซ็นเซอร์ Wavefront FIS4-HR-W 400-1100Nm คุณสมบัติและแอปพลิเคชัน

 ตั้งแต่ปีพ. ศเซ็นเซอร์ Wavefront FIS4 Seriesหลังจาก 17 ปีของการวิจัยและพัฒนาโดยใช้การออกแบบเส้นทางทั่วไปและอัลกอริทึมการสร้างคลื่นแบบเรียลไทม์

·การตรวจจับข้อมูล wavefront แบบเรียลไทม์เป็นไปได้โดยไม่จำเป็นต้องมีการสั่นสะเทือน

แพลตฟอร์มแยก

·ความไวสามารถเข้าถึง 2nm rms

·การออกแบบเส้นทางออปติคัลเดี่ยวช่วยลดความจำเป็นในการอ้างอิงแสงทำให้การทำงานของปลั๊กแอนด์เพลย์

·ขนาดเป็นเพียงขนาดของกำปั้น

นี้เซ็นเซอร์คลื่นความละเอียดสูง FIS4 400-1100Nmได้รับการออกแบบมาเพื่อความสะดวกสบายในอุตสาหกรรมการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และการป้องกันประเทศ ด้วยความละเอียดสูงของจุดเฟส 300 × 300 (90,000) การตอบสนองทางสเปกตรัมกว้างจาก 400 ถึง 1100 นาโนเมตรและ 10 เฟรมของการแสดงผล 3 มิติแบบเรียลไทม์ที่ความละเอียดเต็มรูปแบบมันให้เครื่องมือวัดพื้นผิวที่มีพื้นผิวและการตรวจวัดพื้นผิว การตรวจสอบแบบไมโครโปรไฟล์

Bojiongเซ็นเซอร์ Wavefront FIS4-HR-W 400-1100Nm แอปพลิเคชัน

Bojiongเซ็นเซอร์ Wavefront FIS4-HR-W 400-1100Nm  รายละเอียด

ที่เซ็นเซอร์คลื่นความละเอียดสูง FIS4 400-1100Nmใช้เทคโนโลยีการเลี้ยวเบนแบบสี่คลื่นแบบสุ่มที่ได้รับการจดสิทธิบัตรเพื่อให้ได้การแทรกแซงตนเองของคลื่นที่วัดได้เพียงครั้งเดียวสร้างสัญญาณรบกวนที่ระนาบภาพด้านหลัง มันต้องใช้การเชื่อมโยงกันของแหล่งกำเนิดแสงน้อยที่สุดและไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนเฟสทำให้การวัดแบบอินเตอร์เฟอโรเมตริกโดยใช้ระบบการถ่ายภาพมาตรฐาน ที่เซ็นเซอร์คลื่น FIS4-HR-W นำเสนอความต้านทานการสั่นสะเทือนที่ยอดเยี่ยมและความมั่นคงบรรลุความแม่นยำระดับนาโนเมตรโดยไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือน เมื่อเทียบกับเซ็นเซอร์ Microlens Array Hartmann มันมีจุดเฟสความละเอียดสูงมากขึ้นช่วงความยาวคลื่นที่กว้างขึ้นช่วงไดนามิกที่มากขึ้นและอัตราส่วนประสิทธิภาพการทำงานที่เหนือกว่า

รูปที่ 1. เฟสการถ่ายภาพหลักการอิงตามสัญญาณรบกวนการตัดด้านข้างสี่คลื่นโดยใช้ตะแกรงไฮบริดแบบสุ่ม (REHG)

รูปที่ 2. การสร้างคลื่นสี่เหลี่ยมจัตุรัสแบบสแควร์

ที่เซ็นเซอร์คลื่น FIS4เนื่องจากข้อได้เปรียบที่เป็นเอกลักษณ์เช่นความกะทัดรัดความทนทานความละเอียดทางโลกสูงและความเข้ากันได้กับระบบกล้องจุลทรรศน์ที่มีอยู่ได้กลายเป็นเครื่องมือที่ทรงพลังและหลากหลายพร้อมแอพพลิเคชั่นที่หลากหลายในการวิจัยและอุตสาหกรรม เริ่มแรกใช้สำหรับการตรวจสอบพื้นร้านออพติคอลแบบดั้งเดิมรวมถึงการทดสอบส่วนประกอบแสงการประเมินลำแสงเลเซอร์และเลนส์แบบปรับได้

ที่เซ็นเซอร์คลื่น FIS4การออกแบบขนาดกะทัดรัดทำให้ง่ายต่อการรวมเข้ากับระบบกล้องจุลทรรศน์ที่มีอยู่ในขณะที่ความทนทานของมันแสดงให้เห็นถึงความสามารถในการรักษาความไวของอินเตอร์เฟอโรเมทริกที่แม่นยำแม้ในสภาพแวดล้อมที่มีการสั่นสะเทือนสูง นอกจากนี้เซ็นเซอร์ FIS4 Wavefront มีความสามารถในการวัดการยิงครั้งเดียวทำให้สามารถจับภาพกระบวนการไดนามิกที่รวดเร็ว ในการวิจัยทางชีวการแพทย์เซ็นเซอร์คลื่น FIS4ถูกนำมาใช้สำหรับการถ่ายภาพแบบเรียลไทม์แบบเรียลไทม์ของเซลล์ที่มีชีวิตเช่น COS-7, HT1080, เซลล์ RPE, เซลล์ CHO, เซลล์ HEK และเซลล์ประสาท

ที่เซ็นเซอร์คลื่น FIS4นอกจากนี้ยังใช้สำหรับการถ่ายภาพล่าช้าเฟสซึ่งให้ความคมชัดที่แข็งแกร่งสำหรับการแสดงภาพเนื้อเยื่อ anisotropic และโครงสร้าง subcellular เช่นเส้นใยคอลลาเจนและโครงร่างโครงกระดูก เทคโนโลยีนี้ยังได้ขยายไปสู่การถ่ายภาพเฟสในเอ็กซ์เรย์อินฟราเรดความยาวคลื่นกลาง (MWIR) และภูมิภาคอินฟราเรดความยาวคลื่น (LWIR) ที่ยาวนานแสดงให้เห็นถึงศักยภาพในการใช้งานแบบสหวิทยาการ นอกจากนี้การวิจัยล่าสุดโดยใช้ไฟล์เซ็นเซอร์คลื่น FIS4มีเทคโนโลยีการตรวจจับคลื่นที่ใช้อย่างกว้างขวางกับการจำแนกลักษณะของ metasurfaces และวัสดุสองมิติแสดงให้เห็นถึงการใช้งานที่หลากหลายและคุณค่าที่อาจเกิดขึ้นในทัศนศาสตร์และวิทยาศาสตร์วัสดุ