Laser Planar Interferometer (LPI-100) ซึ่งมีความเร็วในการวัดไดนามิกแบบเรียลไทม์สูงสุด 15 เฟรมต่อวินาที สามารถตรวจจับรูปร่างพื้นผิวขององค์ประกอบออปติคัลระนาบแบบเรียลไทม์ภายในรูรับแสง 100 มม. ลำแสงที่นำข้อมูลรูปร่างพื้นผิวขององค์ประกอบที่วัดมาจะเลี้ยวเบนผ่านตะแกรงที่เข้ารหัสเป็นพิเศษ ซึ่งจะตัดหน้าคลื่นด้านข้างออกเป็นสี่ส่วน ทำให้เกิดเส้นทางทั่วไปที่ตัดรูปแบบการรบกวนสองมิติโดยมีหน้าคลื่นสี่หน้า ด้วยการลดสัญญาณรบกวนแบบสองมิติ จึงสามารถรับข้อมูลรูปร่างพื้นผิวขององค์ประกอบได้
ชื่อผลิตภัณฑ์ |
เลเซอร์อินเทอร์เฟอโรมิเตอร์ระนาบเลเซอร์ |
เส้นผ่านศูนย์กลางการตรวจสอบ (มม.) |
100*100 |
CCD พิกเซล |
2048*2048 |
จุดสุ่มตัวอย่าง |
512*512 |
ความยาวคลื่น (นาโนเมตร) |
632.8 |
ช่วงไดนามิก (ไมโครเมตร) |
100 |
ความแม่นยำในการวัดค่า PV |
±15นาโนเมตร |
ค่า RMS ที่แม่นยำ (แล) |
≤1/30 นาที |
ความสามารถในการทำซ้ำการวัด RMS (แล) |
≤1/1000ลิตร |
ความละเอียดในการวัด (นาโนเมตร) |
2 |
อัตราเฟรมการแสดงผลแบบเรียลไทม์ (Hz) |
10 |
ตำแหน่งสุ่มเซ็นเซอร์ |
เซิร์ฟเวอร์ประมวลผลภาพ |
พร้อมกับซอฟต์แวร์ประมวลผล |
"ซอฟต์แวร์สร้างใหม่ด้านหน้า Four Wave Front shear Wave" สามารถแสดงด้านหน้าคลื่นเอาท์พุตได้แบบเรียลไทม์: ค่า PV, ค่า RMS, ค่า POWER |
น้ำหนักเครื่อง (กก.) |
50 |
◆การวัดไดนามิกแบบเรียลไทม์สูงสุด 15 เฟรม
◆2nm RMS ความละเอียดเฟสสูง
◆ความละเอียดสูงสุดของจุดเฟส 262144
◆สามารถรับรู้การตรวจจับแบบไดนามิกแบบเรียลไทม์ สามารถบรรลุการตรวจจับแบบไดนามิก 15 เฟรม/วินาที
◆ด้วยสิทธิในทรัพย์สินทางปัญญาที่เป็นอิสระ คุ้มค่า ปรับง่าย โครงสร้างกะทัดรัด
◆ตามหลักการของการรบกวนตัวเองของช่องสัญญาณทั่วไป อุปกรณ์ไม่จำเป็นต้องมีกระจกอ้างอิง และมีความต้านทานที่แข็งแกร่ง ความสามารถในการรบกวน ในสภาพแวดล้อมโรงงานทั่วไปยังสามารถบรรลุการตรวจจับพื้นผิวเรียบได้อย่างแม่นยำ
BOJIONGLaser Planar Interferometer นี้มาพร้อมกับเซ็นเซอร์อินเทอร์เฟอโรเมตริกสี่คลื่น FIS4 เพื่อตรวจจับรูปร่างกระจกระนาบมาตรฐาน และซอฟต์แวร์ประมวลผลจะส่งออกค่า PV, ค่า RMS และค่า POWER ของพื้นผิวของส่วนประกอบที่ทดสอบ
ผลการตรวจสอบพื้นผิวกระจกแบนมาตรฐาน |
คลื่นรบกวนองค์ประกอบแสง |
การตรวจจับหน้าคลื่นส่งของส่วนประกอบแซฟไฟร์ |
โมดูลการทำงานของ BOJIONG Laser Planar Interferometer สามารถแบ่งออกเป็นโมดูลแหล่งกำเนิดแสงส่องสว่าง โมดูลขยายลำแสงรอง โมดูลพาหะ โมดูลโฟกัสเฉพาะจุดเพื่อช่วยในการปรับทัศนคติของตัวอย่าง และโมดูลเซ็นเซอร์อินเทอร์เฟอโรเมตริกสำหรับการตรวจจับรูปร่างพื้นผิวของตัวอย่าง .
โมดูลแหล่งกำเนิดแสงของระบบใช้เลเซอร์นีออนก๊าซฮีเลียมที่มีความยาวคลื่นกลาง 632.8 นาโนเมตร
โมดูลขยายลำแสงรองจะขยายขนาดลำแสงเป็น 100 มม. ตรงตามข้อกำหนดสำหรับการตรวจจับที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางขนาดใหญ่
ส่วนเวทีใช้สำหรับวางส่วนประกอบเชิงระนาบระนาบที่จะทดสอบ เช่น ผลึกแบน เวเฟอร์แบบฉายเดี่ยว ชิปหน้าต่าง ตัวสะท้อนแสงระนาบ ฯลฯ ขั้นตอนการโหลดมีล้อเลื่อนเคลื่อนที่ในทิศทาง X และ Y เพื่อควบคุมการเคลื่อนไหวของตัวอย่าง เพื่อให้จุดแสงที่ปล่อยออกมาของอุปกรณ์ครอบคลุมพื้นผิวของตัวอย่างทดสอบอย่างสมบูรณ์ ในเวลาเดียวกัน บนเวทียังมีการติดตั้งปุ่มสองปุ่มเพื่อปรับท่าทางการเอียงของตัวอย่าง ด้วยการปรับปุ่มเหล่านี้ ระนาบทดสอบจะตั้งฉากกับแกนลำแสง
ระบบถ่ายภาพมีระบบกล้องคู่ หนึ่งในนั้นใช้กล้องถ่ายภาพแบบออพติคอลเพื่อสร้างโมดูลโฟกัสเฉพาะจุดเพื่อช่วยในการปรับท่าทางของตัวอย่าง โดยการสังเกตตำแหน่งจุดกลับของตัวอย่างแบบเรียลไทม์ ท่าทางของตัวอย่างจะถูกปรับเพื่อให้แน่ใจว่าการวัดมีความแม่นยำ อีกเส้นทางหนึ่งติดตั้งเซ็นเซอร์อินเทอร์เฟอโรเมตริกสี่คลื่น FIS4 ซึ่งสร้างโมดูลเซ็นเซอร์อินเทอร์เฟอโรเมตริกสำหรับการตรวจจับรูปร่างพื้นผิวของตัวอย่าง ด้วยการบันทึกขอบอินเตอร์เฟอโรเมตริกแบบเส้นทางทั่วไป จึงสามารถบรรลุผลป้อนกลับแบบเรียลไทม์ของข้อมูลสามมิติบนพื้นผิวของตัวอย่างทดสอบได้ ระบบกล้องคู่สามารถทำงานพร้อมกันได้
◆มาพร้อมกับซอฟต์แวร์ "Laser Planar Interferometer" ซึ่งสามารถแสดงและส่งออกภาพ 3 มิติแบบเรียลไทม์ของระนาบองค์ประกอบออปติคัลที่วัดได้ ค่า PV เอาท์พุต ค่า RMS และค่า POWER ของพื้นผิวที่วัดได้
◆ในเวลาเดียวกัน ซอฟต์แวร์รองรับการส่งออกข้อมูลดิบของผลการวัด ให้การสนับสนุนข้อมูลการตรวจจับเชิงปริมาณสำหรับการศึกษาต่างๆ และอำนวยความสะดวกให้ผู้ใช้ดำเนินการวิเคราะห์ข้อมูลและการวิจัยในอนาคต
ที่อยู่
เลขที่ 578 ถนน Yingkou เขตหยางผู่ เซี่ยงไฮ้ จีน
โทร
อีเมล