เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง

เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง ใช้เทคโนโลยีการเลี้ยวเบนสี่คลื่นที่เข้ารหัสแบบสุ่มที่ได้รับการจดสิทธิบัตร ช่วยให้เซ็นเซอร์เกิดการรบกวนในตัวเองในหน้าคลื่นที่วัดได้เดี่ยว และทำให้เกิดการรบกวนที่ตำแหน่งระนาบภาพด้านหลัง โดยไม่จำเป็นต้องใช้เทคนิคการเปลี่ยนเฟสที่ซับซ้อน เนื่องจากการทำงานที่เรียบง่าย ความต้านทานการสั่นสะเทือนสูงเป็นพิเศษ และความเสถียร เครื่องวิเคราะห์ของ BOJIONG มอบโซลูชันการตรวจวัดการตรวจจับหน้าคลื่นในอุดมคติ โดยให้การวัดที่แม่นยำระดับนาโนเมตรโดยไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือน ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพและความแม่นยำในการวัดอย่างมาก

เราจะยึดมั่นในหลักการของ "คุณภาพต้องมาก่อน ลูกค้าต้องมาก่อน" เสมอ และเราขอเชิญลูกค้ามาเยี่ยมชมเพื่อขอคำปรึกษาอย่างจริงใจ

ข้อมูลจำเพาะของรายการ

คุณลักษณะของเครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG

◆คลื่นความถี่กว้าง 400nm~1100nm

◆ความละเอียดสูง 300 × 300 (90000) จุดเฟส

◆ ต้านทานการสั่นสะเทือนสูงเป็นพิเศษ ไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือนด้วยแสง

◆การรบกวนตัวเองของแสงช่องเดียว ไม่จำเป็นต้องใช้กระจกอ้างอิง

◆2nm RMS ความละเอียดเฟสสูง

◆สร้างเส้นทางแสงรบกวนที่ง่ายและรวดเร็ว

◆รองรับลำแสงคอลลิเมตและคานผสาน NA ขนาดใหญ่

 การประยุกต์ใช้เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG

เครื่องวิเคราะห์คลื่นหน้าคลื่นความละเอียดสูง BOJIONG นี้ใช้ในการตรวจจับด้านหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์, เลนส์แบบปรับได้, การวัดรูปร่างพื้นผิว, การสอบเทียบระบบแสง, การตรวจจับหน้าต่างแสง, ระนาบแสง, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, การตรวจจับความเรียบของพื้นผิว

รายละเอียดเครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG

เครื่องวิเคราะห์คลื่นหน้าคลื่นความละเอียดสูง BOJIONG พัฒนาโดยทีมอาจารย์จากมหาวิทยาลัยเจ้อเจียงและมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีนันยางแห่งสิงคโปร์ ด้วยเทคโนโลยีที่ได้รับสิทธิบัตรในประเทศ โดยผสมผสานการเลี้ยวเบนและการรบกวนเพื่อให้เกิดการรบกวนเฉือนตามขวางแบบสี่คลื่นทั่วไป พร้อมความไวในการตรวจจับที่เหนือกว่าและป้องกันการสั่นสะเทือน ประสิทธิภาพและสามารถรับรู้อินเทอร์เฟอโรเมทไดนามิกแบบเรียลไทม์และความเร็วสูงโดยไม่มีการแยกการสั่นสะเทือน การวัดแบบเรียลไทม์แสดงอัตราเฟรมมากกว่า 10 เฟรม ในเวลาเดียวกัน เซ็นเซอร์ FIS4 มีความละเอียดเฟสสูงเป็นพิเศษที่ 512×512 (260,000 จุดเฟส) แถบการวัดครอบคลุม 200nm~15μm ความไวในการวัดสูงถึง 2nm และความสามารถในการทำซ้ำการวัดดีกว่า 1/1000γ ( อาร์เอ็มเอส) สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์คุณภาพลำแสงเลเซอร์ การตรวจจับสนามการไหลของพลาสมา การวัดแบบเรียลไทม์ของการกระจายสนามการไหลความเร็วสูง การประเมินคุณภาพของภาพของระบบออปติคอล การวัดโปรไฟล์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ และการถ่ายภาพเฟสเชิงปริมาณของเซลล์ชีวภาพ