เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง

ในฐานะผู้ผลิตและซัพพลายเออร์เครื่องวิเคราะห์คลื่นหน้าคลื่นความละเอียดสูงที่มีชื่อเสียงในประเทศจีน BOJIONG Optoelectronics ทุ่มเทให้กับการตรวจจับสัญญาณรบกวนจากหน้าคลื่น โดยสั่งสมความเชี่ยวชาญอย่างลึกซึ้งและมุ่งมั่นที่จะมอบความแม่นยำที่ไม่มีใครเทียบได้ ผลิตภัณฑ์และบริการที่ล้ำสมัยของเราได้กลายเป็นตัวเลือกอันดับต้นๆ สำหรับอุตสาหกรรมต่างๆ รวมถึงการผลิตด้านการมองเห็น การบินและอวกาศ ชีวการแพทย์ และการวิจัยพลังงาน เรานำเสนอการวัดและการวิเคราะห์ประสิทธิภาพด้านแสงที่แม่นยำแก่ลูกค้าของเรา เพื่อปรับปรุงคุณภาพผลิตภัณฑ์และประสิทธิภาพการผลิต
เราขอเชิญลูกค้าจากทั่วโลกอย่างอบอุ่นมาร่วมเป็นพันธมิตรกับเรา เป้าหมายของเราคือการสร้างความสัมพันธ์ในการทำงานร่วมกัน จุดประกายความฉลาด และขับเคลื่อนความสำเร็จร่วมกัน

ส่งคำถาม

เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง ใช้เทคโนโลยีการเลี้ยวเบนสี่คลื่นที่เข้ารหัสแบบสุ่มที่ได้รับการจดสิทธิบัตร ช่วยให้เซ็นเซอร์เกิดการรบกวนในตัวเองในหน้าคลื่นที่วัดได้เดี่ยว และทำให้เกิดการรบกวนที่ตำแหน่งระนาบภาพด้านหลัง โดยไม่จำเป็นต้องใช้เทคนิคการเปลี่ยนเฟสที่ซับซ้อน เนื่องจากการทำงานที่เรียบง่าย ความต้านทานการสั่นสะเทือนสูงเป็นพิเศษ และความเสถียร เครื่องวิเคราะห์ของ BOJIONG มอบโซลูชันการตรวจวัดการตรวจจับหน้าคลื่นในอุดมคติ โดยให้การวัดที่แม่นยำระดับนาโนเมตรโดยไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือน ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพและความแม่นยำในการวัดอย่างมาก

เราจะยึดมั่นในหลักการของ "คุณภาพต้องมาก่อน ลูกค้าต้องมาก่อน" เสมอ และเราขอเชิญลูกค้ามาเยี่ยมชมเพื่อขอคำปรึกษาอย่างจริงใจ

ข้อมูลจำเพาะของรายการ

ชื่อผลิตภัณฑ์	เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง
ช่วงความยาวคลื่น	400 นาโนเมตร ~ 1100 นาโนเมตร
ขนาดเป้าหมาย	7.07มม.×7.07มม
ความละเอียดเชิงพื้นที่	23.6μm
พิกเซลของภาพ	2048×2048
ความละเอียดเอาต์พุตเฟส	300 × 300 (90000 พิกเซล)
ความละเอียดเฟส	＜2nmRMS
ความแม่นยำแน่นอน	10nmRMS
ช่วงไดนามิก	110μm (150lm)
อัตราการสุ่มตัวอย่าง	24เฟรมต่อวินาที
ความเร็วในการประมวลผลแบบเรียลไทม์	10Hz (ที่ความละเอียดเต็ม)
ประเภทอินเทอร์เฟซ	สับ
มิติ	56.5มม.×43มม.×41.5มม
น้ำหนัก	ประมาณ 120ก

คุณลักษณะของเครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG

◆คลื่นความถี่กว้าง 400nm~1100nm

◆ความละเอียดสูง 300 × 300 (90000) จุดเฟส

◆ ต้านทานการสั่นสะเทือนสูงเป็นพิเศษ ไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือนด้วยแสง

◆การรบกวนตัวเองของแสงช่องเดียว ไม่จำเป็นต้องใช้กระจกอ้างอิง

◆2nm RMS ความละเอียดเฟสสูง

◆สร้างเส้นทางแสงรบกวนที่ง่ายและรวดเร็ว

◆รองรับลำแสงคอลลิเมตและคานผสาน NA ขนาดใหญ่

การประยุกต์ใช้เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG

เครื่องวิเคราะห์คลื่นหน้าคลื่นความละเอียดสูง BOJIONG นี้ใช้ในการตรวจจับด้านหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์, เลนส์แบบปรับได้, การวัดรูปร่างพื้นผิว, การสอบเทียบระบบแสง, การตรวจจับหน้าต่างแสง, ระนาบแสง, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, การตรวจจับความเรียบของพื้นผิว

การตรวจจับหน้าคลื่นของลำแสงเลเซอร์

การวัดรูปร่างพื้นผิวระนาบแสง

การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลมแบบออปติคัล

การวัดความคลาดเคลื่อนของระบบออปติก

การตรวจจับชิ้นหน้าต่างแบบออปติคัล

การวัดการกระจายตัวของโครงตาข่ายภายในวัสดุ

Adaptive optics - การตอบสนองการตรวจจับหน้าคลื่นในโหมด Zernike

รายละเอียดเครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง BOJIONG

เครื่องวิเคราะห์คลื่นหน้าคลื่นความละเอียดสูง BOJIONG พัฒนาโดยทีมอาจารย์จากมหาวิทยาลัยเจ้อเจียงและมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีนันยางแห่งสิงคโปร์ ด้วยเทคโนโลยีที่ได้รับสิทธิบัตรในประเทศ โดยผสมผสานการเลี้ยวเบนและการรบกวนเพื่อให้เกิดการรบกวนเฉือนตามขวางแบบสี่คลื่นทั่วไป พร้อมความไวในการตรวจจับที่เหนือกว่าและป้องกันการสั่นสะเทือน ประสิทธิภาพและสามารถรับรู้อินเทอร์เฟอโรเมทไดนามิกแบบเรียลไทม์และความเร็วสูงโดยไม่มีการแยกการสั่นสะเทือน การวัดแบบเรียลไทม์แสดงอัตราเฟรมมากกว่า 10 เฟรม ในเวลาเดียวกัน เซ็นเซอร์ FIS4 มีความละเอียดเฟสสูงเป็นพิเศษที่ 512×512 (260,000 จุดเฟส) แถบการวัดครอบคลุม 200nm~15μm ความไวในการวัดสูงถึง 2nm และความสามารถในการทำซ้ำการวัดดีกว่า 1/1000γ ( อาร์เอ็มเอส) สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์คุณภาพลำแสงเลเซอร์ การตรวจจับสนามการไหลของพลาสมา การวัดแบบเรียลไทม์ของการกระจายสนามการไหลความเร็วสูง การประเมินคุณภาพของภาพของระบบออปติคอล การวัดโปรไฟล์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ และการถ่ายภาพเฟสเชิงปริมาณของเซลล์ชีวภาพ

พารามิเตอร์ทางเทคนิค FIS4 ของผลิตภัณฑ์แต่ละชุด

ผลิตภัณฑ์	FIS4-ยูวี	FIS4-HR	นาฬิกา FIS4	FIS4-HS	FIS4-เซลล์	FIS4-NIR
ช่วงความยาวคลื่น	200~450นาโนเมตร	400~1100นาโนเมตร	400~1100นาโนเมตร	400~1100นาโนเมตร	400~1100นาโนเมตร	900~1200นาโนเมตร
ขนาดเป้าหมาย mm²	13.3×13.3	7.07×7.07	13.3×13.3	10.24×10.24	7.07×7.07	13.3×13.3
ความละเอียดเชิงพื้นที่	26ไมโครเมตร	23.6μm	26ไมโครเมตร	24.4μm	23.6μm	26ไมโครเมตร
พิกเซลของภาพ	-	2048×2048	-	-	2048×2048	-
ความละเอียดเอาต์พุตเฟส	512×512 (262144พิกเซล)	300 × 300 (90000 พิกเซล)	512×512(262144พิกเซล)	420×420(176400พิกเซล)	300 × 300 (90000 พิกเซล)	512×512(262144พิกเซล)
ความละเอียดเฟส	＜2nmRMS	＜2nmRMS	＜2nmRMS	＜2nmRMS	＜2nmRMS	＜2nmRMS
ความแม่นยำแน่นอน	10nmRMS	10nmRMS	15nmRMS	10nmRMS	10nmRMS	15nmRMS
ช่วงไดนามิก	90ไมโครเมตร (256 นาที)	110μm (150 นาที)	162μm (256 นาที)	132μm (210 นาที)	110μm (150 นาที)	270μm (256 นาที)
อัตราการสุ่มตัวอย่าง	32เฟรมต่อวินาที	24เฟรมต่อวินาที	45เฟรมต่อวินาที	107fps	24เฟรมต่อวินาที	45เฟรมต่อวินาที
ความเร็วในการประมวลผลแบบเรียลไทม์	10เฮิร์ต (ความละเอียดเต็ม)	10เฮิร์ต (ความละเอียดเต็ม)	10เฮิร์ต (ความละเอียดเต็ม)	10เฮิร์ต (ความละเอียดเต็ม) รองรับการประมวลผลแบบแบตช์ล่าช้า	10เฮิร์ต (ความละเอียดเต็ม)	10เฮิร์ต (ความละเอียดเต็ม)
ประเภทอินเทอร์เฟซ	ยูเอสบี3.0	สับ	ยูเอสบี3.0	สับ	สับ	ยูเอสบี3.0
อินเทอร์เฟซภายนอก	-	-	-	-	พอร์ตซี	-
ขนาด มม.²	70x46.5x68.5	56.5x43x41.5	70x46.5x68.5	56.5x43x41.5	56.5x43x41.5	70x46.5x68.5
น้ำหนัก	ประมาณ 240g	ประมาณ 120g	ประมาณ 240g	ประมาณ 120g	ประมาณ 120g	ประมาณ 240g

แท็กยอดนิยม: เครื่องวิเคราะห์ Wavefront ความละเอียดสูง จีน ผู้ผลิต ผู้จัดจำหน่าย คุณภาพ โรงงาน ราคา ขั้นสูง ใหม่ล่าสุด

หมวดหมู่ที่เกี่ยวข้อง

ส่งคำถาม

ข้อมูลติดต่อ



ที่อยู่

เลขที่ 578 ถนน Yingkou เขตหยางผู่ เซี่ยงไฮ้ จีน


โทร

+86-021-56729166


อีเมล

tom.he@shbojiong.com

หากมีข้อสงสัยเกี่ยวกับเซ็นเซอร์อินเทอร์เฟอโรเมตริก เครื่องวิเคราะห์ Wavefront เซ็นเซอร์ Wavefront หรือรายการราคา โปรดฝากอีเมลของคุณมาหาเรา แล้วเราจะติดต่อกลับภายใน 24 ชั่วโมง

คำแนะนำข่าวสาร

นวัตกรรมเทคโนโลยีเซ็นเซอร์อินเทอร์เฟอโรเมตริก: ผู้นำยุคใหม่ของการวัดที่มีความแม่นยำสูง ดูเพิ่มเติม >>

การออกแบบตะแกรงไฮบริดแบบเข้ารหัสแบบสุ่มสำหรับการตรวจจับด้านหน้าคลื่นแบบเฉือนตามขวางแบบสี่คลื่น ดูเพิ่มเติม >>

การออกแบบแรสเตอร์ไฮบริดแบบเข้ารหัสแบบสุ่ม ดูเพิ่มเติม >>