เครื่องตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวส่วนประกอบทางแสง AOI450

เครื่องตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวส่วนประกอบทางแสง AOI450 สามารถตรวจสอบส่วนประกอบทางแสงและบานหน้าต่างแบบใช้แสงได้ มีความละเอียดในการตรวจจับสูงถึง 0.5 ไมโครเมตร และรูรับแสงในการตรวจสอบสูงสุด 450 มม. x 450 มม. อุปกรณ์สามารถส่งออกรายงานได้โดยอัตโนมัติด้วยรูปแบบที่รวมถึงมาตรฐานทางทหารของสหรัฐอเมริกา MIL-PRF-13830A/B และมาตรฐานสากล ISO10110-7

ข้อกำหนดรายการ:

คุณลักษณะของเครื่องตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวส่วนประกอบทางแสง BOJIONG AOI450

เครื่องตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวส่วนประกอบทางแสง AOI450 ใช้เทคโนโลยีวิชันซิสเต็มเพื่อให้การตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวบนส่วนประกอบทางแสงและบานหน้าต่างแบบออปติคัลเป็นแบบอัตโนมัติ ความเร็วสูง และมีความแม่นยำสูง ซึ่งช่วยแก้ไขปัญหาประสิทธิภาพต่ำและความแม่นยำต่ำในการตรวจสอบด้วยภาพได้อย่างมีประสิทธิภาพ ความละเอียดการตรวจจับสูงสุดสามารถเข้าถึง 0.5 ไมโครเมตร และรูรับแสงการตรวจจับสูงสุดสามารถมีขนาดใหญ่ได้ถึง 450 มม. x 450 มม. เทคโนโลยีการถ่ายภาพที่ใช้ประกอบด้วยการส่องสว่างแบบวงแหวนและการถ่ายภาพสนามมืดแบบกระจายขนาดเล็ก อุปกรณ์นี้สามารถสร้างรายงานได้โดยอัตโนมัติ โดยมีรูปแบบต่างๆ ซึ่งรวมถึงมาตรฐานทางทหารของสหรัฐอเมริกา MIL-PRF-13830A/B และมาตรฐานสากล ISO 10110-7

ฟิลด์แอปพลิเคชันเครื่องตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวส่วนประกอบทางแสง AOI450

เหมาะสำหรับการควบคุมคุณภาพของข้อบกพร่องที่พื้นผิวในส่วนประกอบทางแสง, เวเฟอร์หน้าต่างแสง, เวเฟอร์ซิลิคอน, เวเฟอร์แซฟไฟร์ ฯลฯ

ข้อบกพร่องในการขัด: รอยขีดข่วน หลุม การบิ่น ฟอง สิ่งสกปรก ฯลฯ

อุปกรณ์นี้สามารถรองรับข้อบกพร่องประเภทต่อไปนี้:

ข้อบกพร่องในการเคลือบ: การหลุดร่อน, ความเสียหายต่อการเคลือบ ฯลฯ

◆ ไฟส่องสว่างวงแหวนแบบหลายลำแสง

◆ การขยายภาพแบบแปรผันพร้อมตัวเลือกการขยายสูงและต่ำ

◆ ความแม่นยำในการตรวจจับ 0.5 μm

◆ การตรวจจับหลายเวเฟอร์ทั้งแผ่น

◆ มอเตอร์แนวราบเพื่อการถ่ายภาพที่รวดเร็ว

◆ ติดตั้ง FFU (ชุดกรองพัดลม) เพื่อความมั่นใจในความสะอาดภายใน

ไฟส่องภาพวงแหวนแบบหลายลำแสง

กล้องจุลทรรศน์ซูมอัตโนมัติตั้งแต่ 1X ถึง 8X

การหนีบอย่างรวดเร็วแบบปรับได้สำหรับทั้งแผ่น

มอเตอร์เชิงเส้น 2D ที่มีความแม่นยำสูงช่วยให้มั่นใจในความแม่นยำของการถ่ายภาพที่รวดเร็ว

ซอฟต์แวร์ตรวจสอบอัจฉริยะ AOI

เอาต์พุตสเปรดชีตมาตรฐานทางทหาร

แสดงผลการทดสอบ

เคลือบผิวกันรอยขีดข่วน

รอยขีดข่วน

จุดที่เลเซอร์เสียหาย 1

เลเซอร์เสียหายจุดที่ 2

จุดอนุภาคระดับนาโน

ไฟเบอร์

ส่วนประกอบที่เสื่อมโทรม

ความเสียหายของชั้นเมมเบรน

พารามิเตอร์เครื่องตรวจจับข้อบกพร่องพื้นผิวส่วนประกอบทางแสง AOI450