FIS4 UHR WAVELROMOFT DETECTOR

ในสาขาการตรวจจับคลื่นความถี่ Bojiong FIS4 UHR Wavefront นั้นแสดงให้เห็นถึงการก้าวกระโดดทางเทคโนโลยีที่สำคัญ เมื่อเปรียบเทียบกับเซ็นเซอร์ Microlens Array Hartmann แบบดั้งเดิม Bojiong ไม่เพียง แต่ประสบความสำเร็จอย่างมากในจำนวนจุดเฟสที่ให้ความละเอียดที่ละเอียดยิ่งขึ้นและคุณสมบัติรายละเอียดที่สมบูรณ์ยิ่งขึ้น แต่ยังแสดงให้เห็นถึงประสิทธิภาพที่เหนือกว่าในแบนด์วิดท์แบบปรับตัวและช่วงไดนามิก  ซึ่งหมายความว่าเครื่องตรวจจับคลื่น Bojiong FIS4 UHR มีความสามารถในการจัดการกับความต้องการการวัดที่กว้างขึ้นและซับซ้อนยิ่งขึ้นและสภาพแวดล้อมทำให้ผู้ใช้มีความยืดหยุ่นในการวัดและการบังคับใช้อย่างไม่เคยปรากฏมาก่อน

ความละเอียดความละเอียดสูงพิเศษของเซ็นเซอร์ Bojiong ถึง 512 × 512 (262,144 จุดเฟส) ซึ่งเสริมด้วยการตอบสนองสเปกตรัมกว้างจาก 400 ถึง 900 นาโนเมตรทำให้มั่นใจได้ว่ามีความแม่นยำสูงและความน่าเชื่อถือภายใต้สภาพแสงต่างๆ นอกจากนี้ยังสนับสนุนการแสดงผลของผลลัพธ์ 3 มิติแบบเรียลไทม์แบบเรียลไทม์ 5 เฟรมซึ่งให้ผู้ใช้ได้รับการตอบรับการวัดแบบไดนามิกทันทีเพิ่มประสิทธิภาพการทำงานอย่างมีนัยสำคัญ การเลือกเครื่องตรวจจับคลื่น Bojiong FIS4 UHR หมายถึงการเลือกโซลูชันการตรวจจับคลื่นที่มีความละเอียดสูงกว่าช่วงที่กว้างขึ้นและประสิทธิภาพที่มากขึ้น

ข้อมูลจำเพาะ：

คุณสมบัติ:

◆พัฒนาในประเทศ 100%

◆ความละเอียดสูงพิเศษที่ 512 × 512 (262144) จุดเฟส

◆การแทรกแซงด้วยตนเองแบบทางเดียวไม่จำเป็นต้องมีแสงอ้างอิง

◆วงกว้าง 400nm ~ 900nm band

◆ 2nm RMS ความละเอียดสูงเฟส

◆ความต้านทานการสั่นสะเทือนที่แข็งแกร่งมากไม่จำเป็นต้องแยกการสั่นสะเทือนแบบออพติคอล

◆ด้วยการออกแบบการปราบปรามเลเซอร์รบกวน

◆รองรับคาน collimated และคานขนาดใหญ่ NA ที่มาบรรจบกัน

  แอปพลิเคชัน:

เครื่องตรวจจับคลื่น Bojiong FIS4 UHR นี้ใช้ในการตรวจจับคลื่นเลเซอร์ลำแสง, เลนส์แบบปรับตัว, การวัดรูปร่างพื้นผิว, การสอบเทียบระบบออปติคัล, การตรวจจับหน้าต่างออปติคัล, ระนาบแสง, การวัดรูปร่างพื้นผิวทรงกลม, การตรวจจับความขรุขระพื้นผิว

  รายละเอียด:

เครื่องตรวจจับ Bojiong FIS4 UHR Wavefront ได้รับการพัฒนาโดยทีมงานของอาจารย์จากมหาวิทยาลัยเจ้อเจียงและมหาวิทยาลัยเทคโนโลยี Nanyang รัฐสิงคโปร์ มันใช้เทคโนโลยีการเลี้ยวเบนแบบสี่คลื่นแบบสุ่มที่จดสิทธิบัตรเพื่อให้ได้คลื่นเดียวกับคลื่นเดียว การรบกวนเกิดขึ้นที่ตำแหน่งระนาบด้านหลังโดยมีความต้องการต่ำในการเชื่อมโยงกันของแหล่งกำเนิดแสงและไม่มีการเลื่อนเฟส ระบบการถ่ายภาพสามัญสามารถตรวจวัด interferometric ได้ มันมีความต้านทานต่อการกระแทกสูงเป็นพิเศษและความเสถียรสูงเป็นพิเศษและสามารถทำการวัดความแม่นยำระดับนาโนเมตรโดยไม่ต้องแยกการสั่นสะเทือน เมื่อเทียบกับเซ็นเซอร์ Microlens Array Hartmann มันมีจุดเฟสมากขึ้นช่วงแถบการปรับตัวที่กว้างขึ้นช่วงไดนามิกที่ใหญ่ขึ้นและราคาที่ต่ำกว่า

มันมีจุดมุ่งหมายเพื่อช่วยเหลือการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และการพัฒนาฉากอุตสาหกรรมที่มีความแม่นยำสูง ความละเอียดที่สูงขึ้นสามารถให้ข้อมูลรายละเอียดเพิ่มเติมในการตรวจจับคลื่น ความละเอียดสูงเป็นพิเศษ 512 × 512 (262144) จุดเฟส, การตอบสนองสเปกตรัมกว้าง 400-900Nm, 5 เฟรมของความละเอียดแบบเรียลไทม์แบบเรียลไทม์แบบเรียลไทม์แบบเรียลไทม์ micro-contour ฯลฯ